一、扫描近场微波显微镜测量非线性介电常数的理论校准系数（论文文献综述）
李路同[1]（2021）在《等离子体电磁特性及微波诊断方法研究》文中进行了进一步梳理高超音速飞行器再入大气层是一个复杂的物理过程,涉及多个学科领域以及变化阶段,认识和了解该过程中等离子体的电磁波传播特性对缓解黑障通信问题具有重要的指导意义。目前等离子体电磁波传播特性理论研究已趋于完备,受限于再入模拟实验的高成本以及复杂度,与之相辅的实验研究则发展相对缓慢。基于上述研究背景,本文深入研究了适用于等离子体诊断的微波测量方法,并在激波管上开展了一系列的等离子体实验研究,分析了电磁波在等离子体中传播的传输反射特性以及非线性现象,具体的研究内容概述如下:1.研究了基于开口矩形波导的微波反射测量方法,基于待测介质平板与开口矩形波导间存在空气夹层的分析模型,利用校准方法消除了单模分析方法未考虑高次模以及有限大法兰未考虑反射所引入误差的影响,实现了低损耗介质相对介电常数实部的测量。在反射系数的计算过程中引入扰动消除了奇异值的影响,并通过仿真结果验证了方法的有效性,讨论了空气层厚度的选取以及有耗待测介质的影响。最后对PMMA和PTFE样品的相对介电常数实部进行了测量,其结果与自由空间法的测量结果吻合良好。2.基于透镜喇叭天线提出了待测介质厚度未知情况下相对介电常数实部的微波反射测量方法,该方法适用于低损耗、低相对介电常数、薄厚度平板介质的测量。通过分析透镜喇叭天线馈电口以及辐射口面的场分布建立了等效分析模型,提出了测量参考面反射系数的校准方法。在忽略介质损耗的条件下,根据传输线理论推导了相对介电常数实部与透镜喇叭天线反射系数的表达式。根据仿真计算对有耗介质板的测量进行了误差分析。为了验证方法的有效性,分别用该方法和自由空间法对PMMA、PTFE以及FR4样品进行了实测,两种方法的测量结果吻合良好。3.提出了适用于激波管内时变等离子体复相对介电常数的微波反射测量方法。为了移除周围环境寄生反射的影响,提出了对应的校准方法并利用微波干涉仪作为参考技术确定未知的校准系数;建立了激波管的三层介质分析模型来计算其表面反射系数;提出了时变反演算法消除求解逆问题中的多值性问题,并从理论上验证和分析了有效性。通过对比微波反射计和微波干涉仪复相对介电常数的提取结果,利用改进的分析模型证明了实验结果开始区间内等离子体的扩散效应,并观测到了末尾区域中的非均匀等离子体流。通过考虑上述因素讨论了计算电子密度Ne以及碰撞频率ve有效测试区间的选取,在有效测试区间内微波反射计和微波干涉仪Ne平均值结果的差别小于1×1017m-3,ve平均值的差别小于1.5×109s-1。最后利用微波干涉仪测量结果讨论了激波速度变化对Ne、ve的影响。4.研究了激波管内瞬态时变等离子体所引起的电磁波非线性现象,分别在激波管的测试段I搭设了微波干涉仪和微波反射计,在测试段II搭设了毫米波反射计,在联合实验中三个系统均采集到激波波前处等离子体所引起的非线性波,通过对非线性波进行频谱分析发现该非线性现象在时域上可分为两部分,且每部分内均出现了多个非线性频点。多次实验测量结果表明这些非线性波与入射波的频差与激波速度和等离子体的粒子组成有关。通过假设等离子体的粒子排布结构,提出了适用于瞬态时变等离子体的周期时变介质模型,分析了该非线性现象可能的物理机理。
杨凯[2]（2020）在《面向近场微波扫描应用的探针设计与研究》文中指出在集成电路和半导体芯片的设计制造中,微波材料的电磁参数对于结构和尺寸具有非常明显的影响。复介电常数作为电磁参数的代表,是刻画器件电磁性能的重要物理量,对其进行精确测量值得深入研究。复介电常数的常规测量方法是测量一个样品整体平均的参数值,无法实现材料的局部参数的测量,而微波近场显微术是用来解决远场成像分辨率存在极限的问题。将微波近场显微系统与介电常数的测量系统相结合,以实现介电常数的高分辨率测量,满足微波频段下复合材料的测试需求。本文选题来自于国家自然科学基金科学仪器专项——微波大功率半导体芯片热态参数综合分析仪。在整套系统当中,探针将能量传输至样品并在针尖部分形成近场作用区域,是整套系统的核心组件,也是本文着重研究的对象。本研究从近场显微理论出发,结合10 MHz到110 GHz的宽频带测试需求,提出了两种满足需求的设计方案并进行了验证。主要工作内容可以归结为以下三点:（一）首先分析了探针在微波近场当中的作用,介绍了近场隐失波的作用机理和避雷针效应。在针尖附近的亚波长区域内,电磁场呈现静态特性并且存储无功且受到样品性质影响的电磁场能量。接着介绍了近场探针在测量介电常数方面的应用,最后提出了近场探针的设计要求并且搭建了探针测试平台。（二）由于微波与材料的相互作用是频率的函数,首先考虑将微波频带进行分组并在相应的频段组内分析微波的性质,结合探针的设计要求提出具体的设计方案。同时,对同轴和矩形波导两种典型的探针类型进行了具体的设计。从两种结构的电磁场分布出发,通过对传输过程中损耗和功率等因素的分析,提出了具体的尺寸要求。根据相应的尺寸设计要求和材料要求,分别利用仿真和实验对两种探针进行了验证。实验说明,在利用同轴和矩形波导是可以在一定的频率限定下实现微波近场的测试。（三）提出了利用不存在截止频率的共面波导结构设计来满足测试需求探针的方案。共面GSG（Ground-Signal-Ground）探针,是由三根金属导体组成的平面型近场探针。首先介绍了共面探针的特点,从理论方面分析了共面波导结构的电磁场分布、特性阻抗和损耗等概念,提出了共面波导设计当中的尺寸选择方法,利用仿真验证了共面波导结构在传输微波能量和测量标准样品时电磁场的分布情况。电磁场能量基本会被束缚在共面波导的缝隙之间,并且在末端与样品发生作用。最后,使用印刷电路板中技术制作了实际的共面波导并进行了实际回波损耗的测量。实验说明,需要通过尺寸设计以及校准来准确获得近场中共面波导结构探针的反射系数进而进行后续的分析。本文针对宽频带近场微波测试的需求,从近场微波显微理论出发,对在复介电常数测量中的近场探针进行了分析,并提出了相应的设计要求;其次提出了两种具体的探针设计方案,通过理论分析、仿真验证与实验测试三者相结合的方式进行了验证。
赖展军[3]（2020）在《移动通信基站天线测量若干关键技术问题研究》文中进行了进一步梳理移动通信已经发展到第五代（5G）,成为了新基建的龙头和万物互联的基石,其网络依赖于天线完成无线覆盖。而天线作为移动通信网络的关键部件,其基本性能最终是通过天线测量来进行评估和判定。天线的测量过程以及测量结果的准确性受到很多内外部因素影响,5G和未来6G天线技术发展,对测量技术也提出了许多新的要求,相关研究具有重大意义和实用价值。天线测量技术的发展使其涉及的领域越来越宽,从电磁场理论到信号处理算法、从硬件设计到软件编程、从低频电路到射频电路、从机电装置到自动控制等多方面的知识都融汇于天线测量之中。本文从新一代天线发展过程中的测量需求出发,挖掘出若干需要突破的关键技术问题,进行了深入研究。本文的主要研究内容及创新点如下:（1）针对现有商用的矢量网络分析仪电子校准件价格昂贵、品牌间不能互通使用的现状,提出了一种通用型电子校准件硬件架构和基于分式线性变换特性的微波网络误差模型求解算法,并将该算法应用于自行设计研制的电子校准件中,实现了一种性能良好,可与不同品牌网络分析仪适配的电子校准件装置。（2）针对5G大规模天线研发和生产过程中的电路参数去嵌入测量需求,研究了两类5G天线去嵌入测量算法,提出了一种可实现多状态加载Kit模块的传输线结构及去嵌入测量方法,解决了滤波器集成的5G天线中滤波器参数在线评估、天线校准参数准确提取的技术难题,可为5G天线大批量生产提供技术支撑。（3）针对商用测试系统滞后于5G大规模天线和多端口天线测量需求的现状,优化了通用射频开关元件的性能,在此基础上提出了一种有利于减小开关模块级联损耗的硬件架构,推导了用于补偿开关模块通道响应特性的简化算法,并将其应用于5G天线电路参数测量,所研发的开关模块还被用于5G天线空口一致性测量以及多端口天线远场方向图快速测量中。相关成果为5G天线及4G多端口天线的性能测量与评估提供了高性价比解决方案。（4）针对商用测试系统难以支撑新天线技术研究和探索的现状,使用开源硬件模块和常见的滑台丝杆组件,研制出高性价比的毫米波辐射特性测量系统,并进行了毫米波天线远场方向图测量、测量场地反射抑制算法、天线增益测量外推法的实验研究。克服了因商用测量系统价格昂贵对理论学习和验证造成的障碍,为后续相关技术开发和研究奠定了基础。（5）针对商用仪表价格昂贵且便携性较差的现状,提出了一种使用开源软件无线电模块和双定向耦合器,结合微波网络理论进行矢量反射系数测量的方法,获得了与这方面的昂贵专用仪表相近的测量结果;提出了一种利用软件无线电模块测量传输峰值频率点、结合曲面数据拟合算法计算介质材料介电常数的方法。这两项研究成果为天线反射系数测量和天线所用介质材料的测量提供了一种全新的、高性价比的解决方案。本文所做的研究体现了多学科技术在天线测量中的综合应用,所提出的方法和研制的相关装置已经在工程中获得应用并发挥出良好的效益。
黄和[4]（2020）在《薄膜电特性的近场微波测试方法研究》文中指出随着人们对电子元器件小型化需求的增加,各种功能薄膜材料开始广泛应用于人们的日常生活中,薄膜材料电特性的研究是当前科学技术的重要研究领域,薄膜材料电特性的精确测量是开发电子元器件的基础。传统表征薄膜电特性的方法对样品的形状、体积有严格的要求,而且测试到的结果是某个样品区域内的共同贡献,难以获得微区的电特性。近场微波显微镜是利用近场扫描被测样品,突破了衍射的极限,具有很高的空间分辨率,可以对薄膜材料实现纳米级的微区成像以及无损检测,使得人们能迅速找到薄膜的缺陷,进而优化薄膜的制作工艺。因此本文使用近场微波显微镜对薄膜的电特性进行研究。本文首先通过对近场理论和微扰理论的推导,得出了针尖与样品的相互作用对谐振腔的能量产生微扰,进而影响谐振腔谐振频率变化的结论,为有限元模型仿真分析提供理论依据;通过镜像电荷法以及微扰理论推导了基于准静态模型的介电常数定量计算公式,并通过扣除背景噪声的方法对计算结果进行优化。然后分别对块状介电材料、薄膜介电材料、金属薄膜材料进行了仿真分析,探究了针尖-样品距离、块状介电材料介电常数、系统结构、薄膜介电材料介电常数与薄膜厚度对谐振频率的影响,还研究了表面电阻对品质因数的影响,以及针尖-样品距离,介电样品介电常数、针尖半径对系统空间分辨率的影响,结果表明:测量介电材料介电常数应采用软接触模式,表征金属薄膜样品表面电阻要采用品质因数,减小针尖-样品距离与针尖半径可以增加系统空间分辨率,这些计算结果为基于近场微波显微镜探索薄膜材料电特性的测试方法研究指明了方向。最后为了扣除距离的影响,本文提出了一种软接触实现方法,利用该方法对不同块状介电材料进行了测量,测量结果与仿真结果一致,证明了该方法的有效性,同时测量了软接触谐振频率测试误差为±0.228MHz。为了扣除噪声影响,利用扣除背景噪声的介电常数定量计算公式对多个样品软接触测量结果进行了拟合,得到了系统常数因子A等于0.00294,背景噪声F等于3.78044×10-4,完成本系统对介电常数测试的定标工作。本文还对金属薄膜进行了测量,测量结果与仿真结果一致,对介电薄膜与金属薄膜进行了成像研究,证明了近场微波显微镜可以实现微区成像和无损检测。
刘高[5]（2020）在《基于NSMM的流体的近场微波特性研究》文中研究表明随着学科之间的融合进一步加深和微波通信技术的快速发展和应用,任何学科都离不开微波通信技术的支持。在生物化学的研究上,微波通信技术已经成为研究生物化学性质的一个重要手段,同时,液体的微波特性作为生物化学的一个基础研究领域,微波传感方法由于其高灵敏度,对生物化学的研究应用具有很强的吸引力,对于生物化学的发展有着至关重要的作用,但是传统的远场显微镜因为衍射极限,不能得到理想的参数,而近场微波显微镜能突破衍射极限,因此近场显微镜的作用就显得更加重要。目前,使用近场微波技术研究液体的微波特性已经成为了国内外的一个研究热点。本文在现有的基础上,通过仿真和实验验证相结合的方法对液体的近场微波特性测试系统进行优化。主要的工作如下:1.本文首先对液体的近场测量和近场测试系统的国内外发展现状进行收集整理,介绍了近场测试的基础理论研究,其次,总结了几种微波测试方法,并对他们的优缺点、适用条件等进行对比。2.介绍了近场测试系统的结构和理论,在现有工作的基础上对系统的核心器件λ/4谐振腔进行优化仿真,得到更加稳定的参数和更高的分辨率,通过反演分析得到更加准确的电磁参数和电磁参数图像,同时通过实验和仿真的数据相互映证,采用硬币和树叶的特定区域进行实验,进行进一步的分析,得到硬币和树叶的电磁参数图像。3.通过编写上位机的LabVIEW程序,通过上位机控制电动位移台作定向移动并实时从矢量网络分析仪中提取数据存储到本地计算机。4.通过COMSOL建立仿真模型,对液体和针尖的的耦合情况进行仿真,分析出针尖和液体的距离、PET沟道宽度、液体材料、液体厚度等对功率损耗的影响,进一步分析出材料的介电常数和针尖PET沟道宽度,液体厚度的关系,得出最佳的参数范围。
冯悦[6]（2019）在《微波近场扫描中探针设计与仿真研究》文中认为近场微波显微技术,即微波信号通过探针传输到待测样品,使探针与待测样品之间相互作用,得到的微波信号再通过探针返回给测试仪器。整个过程中,微波探针相当于仪器与待测样品间的一个宽带匹配传输线。从上述描述可知,近场微波显微技术的核心有两点:第一是探针与待测样品间的相互作用;第二是微波探针在整个测量系统中的重要性,因此设计微波探针成为一项重要的工作。本文从准静态理论的研究出发,介绍镜像电荷法中的两种具体方法:球面镜像法和介质平面镜像法,为后面分析近场等效模型提供了理论基础。在准静态理论的基础上,使用镜像电荷法来分析近场等效模型的电场分布,分为针尖-样品软接触和针尖-样品有间距两种情况,最后通过MATLAB仿真可得出近场内的电场衰减非常迅速的结论,且样品中的电势相比较于空气中的电势要小很多。针对电磁场的问题,通过理论推导结合仿真分析,可得出准静态理论适用于近场。分析近场同轴探针的理论基础,包括同轴探针的设计原则。研究整个测量系统的测量原理,介绍其测量方法,确定同轴线的50欧姆特性阻抗。对同轴探针进行建模,分析探针与样品相互作用的等效模型,确定针尖与样品相互作用的等效电容,以及等效电容与反射系数之间的关系,从而将样品的电学特性参数与反射系数之间建立联系。改变同轴探针的参数变量,通过仿真分析反射系数的变化情况,以及对样品介电常数的影响,得出结论:（1）底衬的厚度与法兰盘的大小对测量结果影响很小;（2）当样品厚度小于2.5mm时,样品具有不稳定性。对于有效介电常数,对比其理论计算结果与仿真结果,得出结论:当样品厚度大于2.5mm时,有效介电常数的理论计算结果与仿真结果基本吻合,最大误差不超过6%。研究共面波导探针的设计理论,包括结构、优缺点、传播模式等。设计新型共面波导,确定其尺寸大小。对此探针进行建模仿真,对比新型探针的电磁场线分布和传统共面波导的场线分布,验证新型共面波导探针的正确性,通过分析回波损耗确定新型探针的可行性。在近场微波显微术中,使用这个新型探针来测量微带线,分析测量结果,包括回波损耗和近场内的电磁场分布,在频率为3GHz时,测量微带线的有效介电常数,比较其测量结果与理论值,得出结论:在频率为3GHz时,微带线有效介电常数的测量值与理论值基本吻合,故验证了新型探针的性能。
杨友斌[7]（2019）在《界面和能带结构对电荷俘获型器件存储性能影响的研究》文中指出SONOS（Si/SiO2/Si3N4/SiO2/poly-Si）型存储器具有写入/擦除速度快、功耗低、数据保持时间长以及与CMOS工艺兼容等优点,被广泛应用于手机、电脑和相机等电子产品领域。研究发现使用选择与沟道导带底势能高度匹配的高-k材料做电荷俘获层取代SONOS型器件中的Si3N4,能提高器件的保持特性。Al2O3热稳定性好、介电常数高,常被用来做隧穿层和阻挡层,但它与p-Si界面形成的高密度界面态能俘获电荷,不利于数据的保持。为解决该问题,可在p-Si/Al2O3界面处加入SiO2层来减少界面态。传统的器件保持特性测试方法可得到器件的平带电压偏移量随时间变化的曲线,而微波阻抗显微技术能根据图像观测到器件在写入或擦除操作后导电性能的变化状况,为器件保持特性的表征提供了一种可视化的操作方法。本文研究了电荷俘获层不同的能带结构以及在p-Si/Al2O3界面处插入SiO2层对高-k复合介质电荷俘获型存储器件存储性能的影响。此外,尝试采用微波阻抗显微术对器件的保持特性进行了可视化的观测。1.用（Al2O3）x（TiO2）1-x（x=0.3或0.4）介质作为电荷俘获层,制备了 p-Si/Al2O3/（Al2O3）x（TiO2）1-x/Al2O3/Pt的存储器件。结果表明:（Al2O3）0.3（TiO2）0.7对应器件的存储窗口较大,这与TiO2介电常数较大且复合物中含量较高有关。同时本文采用能带匹配理论模型,计算了不同成分下（Al2O3）x（TiO2）1-x电荷俘获层薄膜的禁带宽度、导带位置和价带位置。结果表明（Al2O3）x（TiO2）1-x的导带底的势能位置随着TiO2的增多而降低,当其导带底势能位置低于p-Si导带底势能时,电子会从p-Si向具有更低导带底势能的电荷俘获层自发隧穿,所以器件的写入保持平带电压偏移量随着时间会变大。由于（Al2O3）0.4（TiO2）0.6的导带底势能和p-Si导带底势能较为匹配,因此对应器件的保持特性更好。2.在上述结构的基础上,在p-Si和Al2O3之间引入Si02层。测试结果表明,与纯A1203隧穿层器件对比,插入SiO2层的器件存储窗口变小,但保持特性变好,表明SiO2的加入有利于减小Al2O3与p-Si之间的界面态密度,减少界面对电荷的俘获。3.制备了导带底势能分别高于和低于p-Si导带底势能的Ta2O5和（ZnO）0.75（Ta2O5）0.25作为电荷俘获层的器件。结果表明:两者擦除保持平带电压偏移量均随时间减小,但包含（Zn0）0.75（Ta205）0.25的器件,其写入保持平带电压偏移量逐渐增大,这和电子自发隧穿有关。此外本文利用微波阻抗显微术对上述器件的保持特性进行了表征,其结果能被更直观地观测到,且与传统电学测试方法的结果相符。
杨会平[8]（2019）在《微放电效应与松散连接对无源互调的影响机理研究》文中研究说明抑制无源互调干扰是保证移动通信系统安全、稳定、经济运行的重要前提,也是推进我国电信基础设施共建共享、多系统频段兼容的重要保证。国内外学者经过近50年的研究,总体上将无源互调的产生原因分为接触非线性和材料非线性两种类型。但是,随着无线通信领域的新材料与新技术的广泛应用,在无源互调的产生机理方面,仍然有许多尚未完全明晰的地方。本文针对新一代移动通信系统的大功率-易放电、高频率-电连接要求高的特点,重点研究了微放电和松散电接触两个亟待解决的无源互调产生机理,主要内容包括:1)微放电效应对无源互调的影响机理研究;2)松散电接触对无源互调的影响机理研究。1.在微放电效应对无源互调的影响机理方面,本文的研究工作主要包括以下两部分内容:1)单载波微放电效应的频谱特征解析。首先以微放电效应的稳定状态为着眼点,建立一种微放电效应的稳态分析模型,并仿真验证其正确性;然后依据此稳态分析模型,提出一种单载波微放电效应电流密度频谱特征解析方法。研究结果表明:单载波微放电效应所产生电子噪声的频率成份为基波频率的奇数倍,因此,本文的研究结论有助于设计射频噪声抑制器件或滤波器件,滤除由于单载波微放电效应所产生的电子噪声干扰。2)多载波微放电效应的频谱特征解析。首先利用单载波条件下已论证的稳态分析模型,求解出多载波微放电效应的瞬时速度;然后将此瞬时速度分解为连续时间分量vosc（t）和周期常数分量vcon（t）;最后利用傅立叶级数求解出多载波微放电效应电子噪声的频率成份。研究结果表明:多载波微放电效应所形成电子噪声的频率成份为载波中心频率的奇数倍,其3阶谐波和7阶、9阶、11阶次谐波非常接近三阶无源互调频率。2.在松散电接触对无源互调的影响机理方面,本文的研究工作主要包括以下三部分内容:1)松散连接电特性量的无源互调影响机理分析。首先建立一种紧凑电接触的等效电路模型;然后在松散电接触条件下,对阻抗、电流以及S-参数三种电特性量进行理论分析与仿真;最后,构建一种松散连接等效电路模型。研究结果表明:松散电接触导致无源互调干扰水平升高的原因在于通过非线性膜电阻的电流增加和接触阻抗的电热耦合现象。2)松散连接电热耦合效应的无源互调影响机理分析。首先建立一种电磁域与热域之间的能量转化模型—电热耦合热路分析模型;然后将此模型拓展到松散连接的同轴连接器中,并利用计算机仿真（Computer Simulation Technology,CST）软件的多物理场工作室验证该拓展模型的正确性;最后给出一种松散连接电热耦合效应所导致的无源互调值与其影响因子的定量描述式,实现了对松散连接电热耦合效应无源互调值的准确预测。3)提出一种松散电接触无源互调测试方法。通过研究松散电接触的电特性量无源互调影响机理和电热耦合无源互调影响机理;揭示了松散电接触增加的无源互调值与电特性量的内在联系,即:松散电接触增加的无源互调值与增加的接触阻抗成正比,并建立了一种松散电接触无源互调测试方法。该方法克服了传统无源互调测试方法都需要专门且昂贵的无源互调测试仪器或频谱分析设备的不足,仅需利用示波器中集成的时域反射（Time Domain Reflectometry,TDR）模块测量出松散电接触增加的阻抗,就能间接求解出松散电接触增加的无源互调值,为无源互调测试提供了新方法和新思路。本论文微放电和松散电接触影响机理的研究,对抑制无源互调干扰有着重要的理论指导作用;为无源互调源判断、低无源互调电路（系统）设计等提供科学依据。
杨季三[9]（2019）在《基于微波相位法的叶尖间隙在线测量技术研究》文中认为良好的叶尖间隙配合对涡轮发动机工作时的性能和安全具有重要影响。所以叶尖间隙在线测量技术,在主动叶尖间隙控制、结构健康监测、飞行器性能实测等方面具有重要作用。目前,基于微波相位法的叶尖间隙在线测量技术正逐渐成为国内外研究热点,本文即围绕该测量原理和当前存在的问题开展了研究工作。首先,分析了微波相位法测距原理和该技术用于发动机叶尖间隙在线测量的可行性。研究了类似于微波干涉仪的测量系统及其组成,分析推导了该系统通过解调收发信号相位差实现测距的过程。其次,针对现有微波位移/距离测量系统存在多种测量误差的问题,结合测量系统和使用环境特点,分析了收发机信号泄露、背景回波叠加、接收机I/Q通道幅相不平衡、接收信号衰减以及空间滤波效应等问题,总结出包含偏置直流、幅相误差、信号衰减、散焦干扰等误差因素的I/Q通道输出形式,并建立了相应的测距误差模型,由此又通过控制变量法对不同误差干扰项测距误差的影响程度进行了定量分析研究。然后,针对接收机I/Q通道输出中的偏置直流、幅相误差和测量时真实波长等校准参数难以同时准确获得的问题,在中频法原理上提出一种基于等效中频的校准参数提取方法。又针对等效中频法提取校准参数不准确的问题,提出一种基于遗传算法的参数组合优化方法。开展了基于MMIC工艺的小型24GHz连续波雷达模块的验证实验,实验结果表明,等效中频法能有效提取出校准参数,使用优化方法后测量线性度提高了68.53%。最后,针对空间滤波效应带来的散焦误差问题,进行了静态位移实验,发现了空间滤波效应的一些规律,从实用角度出发,采用标定法在一定条件下消除了散焦误差,实验结果表明,测距分辨力优于0.01mm,静态测距误差小于0.03mm,重复性实验标准差优于0.02mm。又开展动态叶尖间隙测量验证实验,实验结果表明,该套测试系统具有较高分辨率、实时性和测量精度。
周天益[10]（2018）在《基于压缩感知的微波成像研究》文中指出微波成像本质上属于电磁逆散射问题,在民用和军事领域都拥有广阔的应用前景。本文主要研究基于压缩感知的微波成像。首先,本文针对实际应用中常见的无线定位问题,通过设计具有随机辐射特性的超材料结构,提出了一种基于随机辐射平面口径的压缩感知定位方法,并实现了二维平面内散射目标的定位实验。根据超材料在零折射率附近具有很强的非线性色散特性,理论推导出辐射电场的出射角度与频率之间的非线性关系。基于传统雷达的模糊函数,通过空间-频率二维自相关函数计算验证了辐射场的伪随机性能。利用压缩感知算法对接收到的散射回波与随机辐射场信息作逆散射问题求解,从而实现比传统定位方法更少的数据量和更快的运算速度。本文设计并实现了基于随机辐射平面口径的压缩感知定位系统,全波仿真和实际实验的定位结果均验证了上述定位方法的有效性。其次,本文针对当前热门的随机照射微波成像问题,利用随机调相的阵列天线获取随机辐射场,提出了一种具有最优成像距离的随机多波束照射微波成像方法,并实现了二维平面内微波成像实验。同时,仿真实现了基于压缩感知的随机辐射照射成像,表明了利用压缩感知实现超分辨率成像的潜力。为了求解成像模型方程,随机照射成像体制的关键在于产生具有随机电磁特征的辐射场分布,进而实现对目标的随机测量。利用奇异值分解和互相关性函数分别计算不同距离处成像系统函数的行相关性和列相关性,从而得到具有最优成像距离的随机照射微波成像系统,并通过仿真和实验进行了验证。最后,本文针对较少实验研究的实时微波隔墙成像问题,结合传统的逆散射成像模型和压缩感知理论框架,提出了基于空间压缩感知的实时微波隔墙成像方法,并实现了对位于封闭墙体内的稀疏目标进行实时隔墙成像实验。利用成像区域内物体和墙体的稀疏性,通过分时的多天线系统对目标进行不同空间位置测量从而实现压缩感知成像。与传统的电磁逆散射成像方法对比,在成像质量不受损的情况下,成像计算时间减少了两个数量级,表明了实际应用中实时成像的可行性。根据已知墙体信息,墙体作为均匀背景的一部分构成新的非均匀背景,还提出了非均匀背景下基于压缩感知的隔墙成像方法。
二、扫描近场微波显微镜测量非线性介电常数的理论校准系数（论文开题报告）
（1）论文研究背景及目的
此处内容要求：
首先简单简介论文所研究问题的基本概念和背景，再而简单明了地指出论文所要研究解决的具体问题，并提出你的论文准备的观点或解决方法。
写法范例：
本文主要提出一款精简64位RISC处理器存储管理单元结构并详细分析其设计过程。在该MMU结构中,TLB采用叁个分离的TLB,TLB采用基于内容查找的相联存储器并行查找,支持粗粒度为64KB和细粒度为4KB两种页面大小,采用多级分层页表结构映射地址空间,并详细论述了四级页表转换过程,TLB结构组织等。该MMU结构将作为该处理器存储系统实现的一个重要组成部分。
（2）本文研究方法
调查法：该方法是有目的、有系统的搜集有关研究对象的具体信息。
观察法：用自己的感官和辅助工具直接观察研究对象从而得到有关信息。
实验法：通过主支变革、控制研究对象来发现与确认事物间的因果关系。
文献研究法：通过调查文献来获得资料，从而全面的、正确的了解掌握研究方法。
实证研究法：依据现有的科学理论和实践的需要提出设计。
定性分析法：对研究对象进行“质”的方面的研究，这个方法需要计算的数据较少。
定量分析法：通过具体的数字，使人们对研究对象的认识进一步精确化。
跨学科研究法：运用多学科的理论、方法和成果从整体上对某一课题进行研究。
功能分析法：这是社会科学用来分析社会现象的一种方法，从某一功能出发研究多个方面的影响。
模拟法：通过创设一个与原型相似的模型来间接研究原型某种特性的一种形容方法。
三、扫描近场微波显微镜测量非线性介电常数的理论校准系数（论文提纲范文）
（1）等离子体电磁特性及微波诊断方法研究（论文提纲范文）
| 摘要 |
| abstract |
| 第一章 绪论 |
| 1.1 研究背景与意义 |
| 1.2 国内外研究动态 |
| 1.2.1 等离子体电磁波传播特性研究现状 |
| 1.2.2 等离子体微波诊断技术研究现状 |
| 1.2.3 地面模拟实验以及相关研究进展 |
| 1.3 本文的主要贡献与创新 |
| 1.4 内容安排 |
| 第二章 等离子体电磁波传播基础分析模型 |
| 2.1 等离子体特征参数 |
| 2.2 均匀等离子体电磁波传播分析模型 |
| 2.3 非均匀等离子体电磁波传播分析模型 |
| 2.4 瞬变等离子体电磁波传播分析模型 |
| 2.5 本章小结 |
| 第三章 基于开口矩形波导的微波反射测量方法研究 |
| 3.1 引言 |
| 3.2 开口矩形波导主模反射系数多模分析计算方法 |
| 3.3 改进的开口矩形波导介电常数反射测量方法 |
| 3.4 仿真分析及方法验证 |
| 3.4.1 校准原理仿真分析以及奇异值问题 |
| 3.4.2 测量方法仿真验证 |
| 3.4.3 不确定度误差仿真分析 |
| 3.5 实验系统搭建以及测量结果 |
| 3.6 本章小结 |
| 第四章 基于透镜喇叭天线的微波反射测量方法研究 |
| 4.1 引言 |
| 4.2 实验场景建模及测量方法 |
| 4.3 模型仿真及误差分析 |
| 4.3.1 透镜喇叭天线电场分布仿真分析 |
| 4.3.2 有耗介质理论误差分析 |
| 4.4 实验验证 |
| 4.5 本章小结 |
| 第五章 激波管内时变等离子体的电磁波传输反射特性研究 |
| 5.1 引言 |
| 5.2 适用于激波管实验平台的微波反射测量方法 |
| 5.2.1 微波反射计系统简介以及参考面反射系数校准原理 |
| 5.2.2 激波管参考面反射系数计算方法 |
| 5.2.3 时变等离子体复相对介电常数反演算法 |
| 5.3 等离子体复相对介电常数时变反演算法仿真计算分析 |
| 5.4 微波反射计和微波干涉仪联合实验以及结果分析 |
| 5.4.1 微波反射测量方法校准原理验证 |
| 5.4.2 微波反射计和微波干涉仪复相对介电常数测量结果对比分析 |
| 5.4.3 微波反射计和微波干涉仪N_e以及v_e计算结果对比分析 |
| 5.4.4 不同激波速度微波干涉仪实验测量结果分析 |
| 5.5 本章小结 |
| 第六章 激波管内瞬态时变等离子体电磁波非线性特性研究 |
| 6.1 引言 |
| 6.2 实验场景及测量结果描述 |
| 6.3 测量结果分析及讨论 |
| 6.4 等离子体非线性现象机理分析 |
| 6.5 本章小结 |
| 第七章 全文总结与展望 |
| 7.1 全文总结 |
| 7.2 后续工作展望 |
| 致谢 |
| 参考文献 |
| 攻读博士学位期间取得的成果 |
（2）面向近场微波扫描应用的探针设计与研究（论文提纲范文）
| 摘要 |
| ABSTRACT |
| 符号对照表 |
| 缩略语对照表 |
| 第一章 绪论 |
| 1.1 研究背景与意义 |
| 1.2 近场探针综述 |
| 1.2.1 近场探针的发展及现状 |
| 1.2.2 近场探针的主要类型 |
| 1.2.3 近场探针的使用及校准 |
| 1.3 选题来源与研究内容 |
| 第二章 微波近场应用中的探针设计 |
| 2.1 近场微波显微术 |
| 2.2 微波近场中的探针作用 |
| 2.2.1 近场及近场隐失波的作用机理 |
| 2.2.2 近场探针的避雷针效应 |
| 2.3 近场探针在介电常数测量中的应用 |
| 2.3.1 复介电常数简介 |
| 2.3.2 介电常数的测量方法 |
| 2.3.3 近场探针在介电常数测量中的应用 |
| 2.4 近场探针的设计 |
| 2.4.1 近场探针的设计要求 |
| 2.4.2 探针测试平台的搭建 |
| 2.5 本章小结 |
| 第三章 宽频带下的分组探针设计 |
| 3.1 微波频段分组探针设计 |
| 3.1.1 分组探针设计需求 |
| 3.1.2 不同频段探针设计的要求 |
| 3.2 同轴探针的设计及验证 |
| 3.2.1 同轴探针的理论设计 |
| 3.2.2 同轴探针的仿真与测试验证 |
| 3.3 波导探针的设计及验证 |
| 3.3.1 波导探针的理论设计 |
| 3.3.2 波导探针的仿真与测试验证 |
| 3.4 本章小结 |
| 第四章 GSG宽频带探针设计 |
| 4.1 共面GSG探针的特点 |
| 4.2 共面GSG探针的理论及尺寸设计 |
| 4.2.1 共面波导的结构及电磁场分布 |
| 4.2.2 共面GSG探针的结构模型与尺寸设计 |
| 4.3 GSG探针的仿真验证与实际测试 |
| 4.3.1 GSG探针的仿真验证 |
| 4.3.2 FR4基材的共面GSG探针研究与实际测试 |
| 4.4 本章小结 |
| 第五章 总结与展望 |
| 5.1 全文总结 |
| 5.2 研究展望与下一步工作 |
| 参考文献 |
| 致谢 |
| 作者简介 |
（3）移动通信基站天线测量若干关键技术问题研究（论文提纲范文）
| 摘要 |
| Abstract |
| 第一章 绪论 |
| 1.1 课题来源及主要研究内容 |
| 1.2 国内外研究现状 |
| 1.2.1 矢量网络分析仪电子校准件 |
| 1.2.2 射频测量中的去嵌入测量方法 |
| 1.2.3 射频开关在射频测量中的应用 |
| 1.2.4 天线辐射特性测量系统 |
| 1.2.5 软件无线电及其在射频测量中的应用 |
| 1.3 本课题使用的开源硬件及相关用软件 |
| 1.4 论文主要工作及结构框架 |
| 第二章 相关基本理论与原理简介 |
| 2.1 引言 |
| 2.2 微波网络基本概念与原理 |
| 2.3 课题所用的数据处理理论与算法 |
| 2.3.1 傅里叶变换 |
| 2.3.2 数据插值理论 |
| 2.3.3 分式线性变换及特性 |
| 2.4 天线测量场地及基本要求 |
| 2.5 软件无线电基本理论 |
| 2.6 本章小结 |
| 第三章 矢量网络分析仪电子校准件设计与实现 |
| 3.1 引言 |
| 3.2 矢量网络分析仪误差模型 |
| 3.3 电子校准件硬件及软件设计 |
| 3.4 电子校准件的校准算法 |
| 3.5 测量结果及分析 |
| 3.5.1 电子校准件测量结果 |
| 3.5.2 系统误差项及被测件测试结果 |
| 3.6 本章小结 |
| 第四章 5G大规模阵列天线去嵌入测量方法 |
| 4.1 引言 |
| 4.2 5G天线去嵌入测量的工程需求 |
| 4.2.1 转接工装对测量的影响 |
| 4.2.2 滤波器对测量结果的影响 |
| 4.3 接头转接工装去嵌入测量方法研究及应用 |
| 4.4 滤波器去嵌入测量算法及验证 |
| 4.5 本章小结 |
| 第五章 射频开关在天线测量中的应用 |
| 5.1 引言 |
| 5.2 射频开关模块的优化设计 |
| 5.2.1 射频开关优化设计 |
| 5.2.2 射频开关的性能测试 |
| 5.3 射频开关模块的天线测量中的应用 |
| 5.3.1 射频开关在5G天线电路参数测量中的应用 |
| 5.3.2 射频开关在多端口天线方向图测量中的应用 |
| 5.3.3 射频开关在5G大规模阵列天线空口一致性测量中的应用 |
| 5.4 本章小结 |
| 第六章 毫米波天线辐射特性测量系统开发与应用 |
| 6.1 引言 |
| 6.2 测量系统的原理与实现 |
| 6.3 测量系统的应用实例 |
| 6.3.1 天线远场方向图测量 |
| 6.3.2 测量场地反射抑制算法的应用研究 |
| 6.3.3 天线增益测量外推法的实验研究 |
| 6.4 本章小结 |
| 第七章 软件无线电技术在天线测量中的应用 |
| 7.1 引言 |
| 7.2 软件无线电模块及其实验平台 |
| 7.2.1 性能测试所用的仪表和软件 |
| 7.2.2 软件无线电模块实验平台简介 |
| 7.2.3 软件无线电模块性能测试结果 |
| 7.3 软件无线电模块在矢量反射系数测量中的应用 |
| 7.3.1 反射系数测量系统及误差修正算法 |
| 7.3.2 反射系数测量结果及分析 |
| 7.4 软件无线电模块在介电常数测量中的应用 |
| 7.4.1 介电常数测量原理及数据拟合算法 |
| 7.4.2 介电常数测量装置及测量结果 |
| 7.5 本章小结 |
| 总结和展望 |
| 参考文献 |
| 附录 英文缩写检索表 |
| 攻读博士学位期间取得的研究成果 |
| 致谢 |
| 附件 |
（4）薄膜电特性的近场微波测试方法研究（论文提纲范文）
| 摘要 |
| abstract |
| 第一章 绪论 |
| 1.1 研究背景与意义 |
| 1.2 国内外研究进展 |
| 1.2.1 国内外历史发展 |
| 1.2.2 国内外NSMM的系统组成 |
| 1.2.3 国内外基于NSMM的材料电特性表征 |
| 1.3 本文NSMM的系统结构 |
| 1.4 论文框架 |
| 第二章 近场微波显微镜测试理论基础 |
| 2.1 近场理论 |
| 2.2 微扰理论 |
| 2.3 介电常数的定量计算 |
| 2.3.1 点电荷对导体球面的镜像 |
| 2.3.2 点电荷对无限大介质分界平面的镜像 |
| 2.3.3 基于准静态模型的定量近场理论 |
| 2.4 扣除背景噪声 |
| 2.5 本章小结 |
| 第三章 近场测试仿真分析 |
| 3.1 块状介电材料的近场测试仿真分析 |
| 3.1.1 距离与介电常数对谐振频率的影响 |
| 3.1.2 系统结构对谐振频率的影响 |
| 3.2 薄膜介电材料的近场测试仿真分析 |
| 3.2.1 模型建立与求解原理分析 |
| 3.2.2 块状介电材料纵向扫描分析 |
| 3.2.3 薄膜介电材料纵向扫描分析 |
| 3.3 金属薄膜材料的近场测试仿真分析 |
| 3.3.1 介电样品等效电路分析 |
| 3.3.2 金属薄膜样品等效电路分析 |
| 3.4 近场测试的空间分辨率仿真分析 |
| 3.5 本章小结 |
| 第四章 基于近场微波显微镜的测量研究 |
| 4.1 介电常数的测量 |
| 4.1.1 软接触原理与实现方法 |
| 4.1.2 软接触谐振频率测试误差 |
| 4.1.3 介电常数测量与背景噪声分析 |
| 4.2 表面电阻的测量 |
| 4.3 薄膜样品成像 |
| 4.3.1 介电薄膜样品成像 |
| 4.3.2 金属薄膜样品成像及无损检测 |
| 4.4 本章小节 |
| 第五章 结论与展望 |
| 5.1 结论 |
| 5.2 展望 |
| 致谢 |
| 参考文献 |
| 附录 |
| 攻读硕士学位期间取得的成果 |
（5）基于NSMM的流体的近场微波特性研究（论文提纲范文）
| 摘要 |
| abstract |
| 第一章 绪论 |
| 1.1 课题背景 |
| 1.2 理论依据及实验基础 |
| 1.3 国内外发展现状 |
| 1.4 研究目标和意义 |
| 第二章 几种测量微波参数的方法 |
| 2.1 谐振腔法 |
| 2.1.1 谐振腔微扰法测介电常数公式推导 |
| 2.1.2 谐振腔微扰法测量过程 |
| 2.1.3 小结及分析 |
| 2.2 传输反射法 |
| 2.2.1 传输反射法的基础理论 |
| 2.2.2 小结及分析 |
| 2.3 四探针法 |
| 2.4 近场微波测量系统的扫描模式 |
| 2.5 本章小结 |
| 第三章 液体近场微波显微镜系统 |
| 3.1 背景与发展 |
| 3.2 微波基础理论 |
| 3.2.1 电磁波理论 |
| 3.2.2 阿贝衍射极限现象 |
| 3.2.3 近场基础理论 |
| 3.2.4 近场反演理论 |
| 3.2.5 NSMM系统针尖样品互作用的集总并联谐振电路 |
| 3.3 谐振腔仿真及其优化 |
| 3.3.1 测试平台 |
| 3.3.2 谐振腔优化 |
| 3.3.3 Labview程序优化 |
| 3.3.4 实验步骤 |
| 3.3.5 实验改进措施 |
| 3.4 测试结果检验 |
| 3.4.1 谐振频率 |
| 3.4.2 Q值 |
| 3.4.3 S11 参数 |
| 3.4.4 测试实验结果 |
| 3.5 本章小结 |
| 第四章 液体近场测试的功率损耗仿真 |
| 4.1 仿真软件介绍 |
| 4.2 相关理论计算 |
| 4.3 COMSOL 仿真 |
| 4.3.1 液体 COMSOL 仿真模型 |
| 4.3.2 液体 COMSOL 仿真结果 |
| 4.4 本章小结 |
| 第五章 全文总结与展望 |
| 5.1 本文工作内容总结 |
| 5.2 未来学习工作展望 |
| 致谢 |
| 参考文献 |
| 攻读硕士学位期间取得的成果 |
（6）微波近场扫描中探针设计与仿真研究（论文提纲范文）
| 摘要 |
| ABSTRACT |
| 符号对照表 |
| 缩略语对照表 |
| 第一章 绪论 |
| 1.1 课题研究背景与意义 |
| 1.2 近场微波显微镜综述 |
| 1.2.1 近场微波显微镜的发展及研究现状 |
| 1.2.2 近场微波显微镜的工作模式 |
| 1.2.3 近场微波显微镜的探针类型 |
| 1.3 近场微波显微镜理论模型 |
| 1.3.1 集总参数模型 |
| 1.3.2 探头的传输线模型 |
| 1.3.3 共振腔传输线 |
| 1.4 选题来源与研究内容 |
| 第二章 基于准静态理论的近场分析 |
| 2.1 准静态理论的研究 |
| 2.1.1 近场理论的提出 |
| 2.1.2 准静态理论 |
| 2.2 镜像电荷法 |
| 2.2.1 球面镜像法 |
| 2.2.2 介质平面镜像法 |
| 2.3 基于镜像电荷法的近场等效模型电场分布 |
| 2.3.1 针尖与样品软接触时的近场等效 |
| 2.3.2 针尖与样品间距为g时的近场等效 |
| 2.4 近场内电场分布的MATLAB实现 |
| 2.4.1 针尖与样品软接触时的电势分布 |
| 2.4.2 针尖与样品间距为g时的电势分布 |
| 2.5 本章小结 |
| 第三章 近场同轴探针设计与仿真 |
| 3.1 近场同轴理论基础 |
| 3.1.1 同轴探针的设计理论 |
| 3.1.2 同轴探针软件平台介绍 |
| 3.2 近场内同轴探针的设计 |
| 3.2.1 近场内测量系统的测量方法 |
| 3.2.2 同轴探针模型设计 |
| 3.2.3 探针-样品等效模型与反射系数的理论关系 |
| 3.3 参数变化对测量结果的影响 |
| 3.3.1 底衬厚度对样品介电常数的影响 |
| 3.3.2 样品厚度对样品介电常数的影响 |
| 3.3.3 法兰盘大小对样品介电常数的影响 |
| 3.3.4 仿真结果与理论结果对比分析 |
| 3.3.5 近场内不同介质的电磁场分布 |
| 3.4 微波探针校准方法研究 |
| 3.4.1 标准样品校准法 |
| 3.4.2 电容电导校准方法 |
| 3.5 本章小结 |
| 第四章 近场新型共面波导探针 |
| 4.1 共面波导探针设计理论 |
| 4.1.1 共面波导结构及传输特性 |
| 4.1.2 共面波导传播模式 |
| 4.1.3 共面波导优缺点 |
| 4.2 近场内共面波导探针设计及仿真分析 |
| 4.2.1 共面波导探针模型及尺寸设计 |
| 4.2.2 仿真结果与分析 |
| 4.3 近场共面波导探针测量微带线 |
| 4.3.1 微带线设计理论 |
| 4.3.2 短路微带线模型建立及仿真分析 |
| 4.3.3 基于等高扫描的测量系统模型建立及仿真分析 |
| 4.4 本章小结 |
| 第五章 总结与展望 |
| 5.1 全文总结 |
| 5.2 研究展望 |
| 参考文献 |
| 致谢 |
| 作者简介 |
（7）界面和能带结构对电荷俘获型器件存储性能影响的研究（论文提纲范文）
| 摘要 |
| Abstract |
| 第一章 绪论 |
| 1.1 引言 |
| 1.2 存储器概述 |
| 1.3 非易失性存储器分类 |
| 1.3.1 电荷俘获型存储器 |
| 1.3.2 铁电存储器 |
| 1.3.3 相变存储器 |
| 1.3.4 磁性存储器 |
| 1.3.5 阻变存储器 |
| 1.4 电荷俘获型存储器概述 |
| 1.4.1 电荷俘获型存储器的发展历史 |
| 1.4.2 电荷俘获型存储器的工作原理 |
| 1.4.3 电荷俘获型存储器的写入擦除机制 |
| 1.4.4 电荷俘获型存储器的四个性能参数 |
| 1.5 电荷俘获型存储器件研究进展 |
| 1.5.1 高-k材料在电荷俘获型存储器应用 |
| 1.5.2 能带工程在电荷俘获型存储器应用 |
| 1.5.3 鳍式场效应晶体管 |
| 1.5.4 3D存储器 |
| 1.5.5 有机存储器 |
| 1.6 本文的工作意义、目的和内容 |
| 参考文献 |
| 第二章 薄膜制备与器件性能表征 |
| 2.1 常见薄膜制备方法 |
| 2.2 磁控溅射技术 |
| 2.3 原子层沉积技术 |
| 2.4 快速退火技术 |
| 2.5 器件性能表征设备介绍 |
| 2.5.1 电学性能测试系统介绍 |
| 2.5.2 其他表征设备介绍 |
| 2.6 本章小结 |
| 参考文献 |
| 第三章 能带结构和界面对CTM器件性能的影响 |
| 3.1 引言 |
| 3.2 薄膜生长参数与厚度的标定 |
| 3.2.1 气氛对磁控溅射生长薄膜的影响 |
| 3.2.2 薄膜厚度的标定 |
| 3.3 薄膜结晶状态表征 |
| 3.4 不同隧穿层结构的CTM的制备 |
| 3.5 CTM器件存储性能的表征 |
| 3.6 本章小结 |
| 参考文献 |
| 第四章 CTM器件的微波阻抗显微术表征 |
| 4.1 引言 |
| 4.2 薄膜厚度、表面形貌及结晶状态的表征 |
| 4.3 高-k复合介质电荷俘获层CTM的制备 |
| 4.4 CTM器件存储性能的表征 |
| 4.5 本章小结 |
| 参考文献 |
| 第五章 结论与展望 |
| 5.1 全文结论 |
| 5.2 今后工作展望 |
| 硕士期间的成果 |
| 致谢 |
（8）微放电效应与松散连接对无源互调的影响机理研究（论文提纲范文）
| 摘要 |
| Abstract |
| 第1章 绪论 |
| 1.1 无源互调概述 |
| 1.1.1 无源互调的来源 |
| 1.1.2 无源互调的危害 |
| 1.1.3 无源互调的研究意义 |
| 1.2 无源互调的研究现状 |
| 1.2.1 无源互调产生机理研究 |
| 1.2.2 无源互调分析方法研究 |
| 1.2.3 无源互调测量技术研究 |
| 1.3 现有研究方法的不足 |
| 1.4 论文的主要研究内容 |
| 第2章 微放电效应影响机理研究 |
| 2.1 引言 |
| 2.2 微放电效应的分析 |
| 2.2.1 微放电效应的产生过程 |
| 2.2.2 微放电效应的影响因素 |
| 2.3 单载波微放电效应频谱特征解析 |
| 2.3.1 微放电效应饱和状态等效物理模型 |
| 2.3.2 单载波微放电效应瞬时速度求解 |
| 2.3.3 单载波微放电效应电流密度谱求解 |
| 2.4 多载波微放电效应频谱特征解析 |
| 2.4.1 多载波微放电效应瞬时速度求解 |
| 2.4.2 多载波微放电效应电流密度谱求解 |
| 2.5 仿真实验与结果分析 |
| 2.5.1 微放电效应的仿真模型 |
| 2.5.2 微放电效应仿真与频谱分析 |
| 2.6 本章小结 |
| 第3章 松散连接的电特性量影响机理分析 |
| 3.1 引言 |
| 3.2 金属面微观接触特征分析 |
| 3.2.1 紧凑接触机理模型 |
| 3.2.2 紧凑接触等效电路模型 |
| 3.3 松散连接的电特性量分析 |
| 3.3.1 松散连接机理模型 |
| 3.3.2 松散连接的电流特性量分析 |
| 3.3.3 松散连接的阻抗特性量分析 |
| 3.4 松散连接的电特性量仿真 |
| 3.4.1 松散连接的仿真模型 |
| 3.4.2 松散连接的电流特性量仿真 |
| 3.4.3 松散连接的阻抗特性量仿真 |
| 3.4.4 松散连接S-参数特性量仿真 |
| 3.5 松散连接的等效电路模型 |
| 3.6 本章小结 |
| 第4章 松散连接的电热耦合影响机理研究 |
| 4.1 引言 |
| 4.2 电热耦合与热传导现象分析 |
| 4.2.1 电热耦合现象分析 |
| 4.2.2 热传导现象分析 |
| 4.3 电热耦合分析方法 |
| 4.3.1 热传导方程的拉普拉斯变换 |
| 4.3.2 分数阶热传导方程 |
| 4.3.3 电热耦合的热路分析模型 |
| 4.4 松散连接电同轴连接器热耦合模型与仿真 |
| 4.4.1 松散连接的电热耦合模型 |
| 4.4.2 松散连接的电热耦合仿真 |
| 4.5 松散连接电热耦合的无源互调分析 |
| 4.5.1 电热耦合无源互调的产生机理 |
| 4.5.2 电热偶合无源互调的定量描述 |
| 4.6 本章小结 |
| 第5章 实验测试及结果分析 |
| 5.1 引言 |
| 5.2 无源互调测试平台搭建 |
| 5.2.1 反射式无源互调测试平台 |
| 5.2.2 近场扫描式无源互调测试平台 |
| 5.3 松散连接阻抗的无源互调干扰验证 |
| 5.3.1 松散连接的阻抗测试 |
| 5.3.2 松散连接阻抗的互调干扰测试 |
| 5.4 松散连接电流的无源互调干扰验证 |
| 5.4.1 松散连接电流的互调测试理论 |
| 5.4.2 松散连接电流的无源互调测试 |
| 5.5 松散连接电热耦合的互调干扰验证 |
| 5.5.1 松散连接电热耦合的互调测试理论 |
| 5.5.2 松散连接电热偶合的无源互调测试 |
| 5.6 本章小结 |
| 总结与展望 |
| 参考文献 |
| 致谢 |
| 附录 A 攻读博士学位期间撰写的学术论文与发明专利 |
| 附录 B 攻读博士学位期间完成的项目与获得的资助 |
（9）基于微波相位法的叶尖间隙在线测量技术研究（论文提纲范文）
| 摘要 |
| abstract |
| 第一章 绪论 |
| 1.1 课题研究背景及意义 |
| 1.2 叶尖间隙测量技术研究现状 |
| 1.3 叶尖间隙测量方法比较 |
| 1.4 本文研究内容 |
| 1.5 本文章节安排 |
| 1.6 本章小结 |
| 第二章 微波相位法叶尖间隙测量理论基础 |
| 2.1 微波叶尖间隙测量可行性分析 |
| 2.2 微波探针与雷达前端 |
| 2.2.1 微波探针 |
| 2.2.2 雷达前端 |
| 2.3 微波叶尖间隙测量系统原理 |
| 2.4 本章小结 |
| 第三章 微波相位法测距误差分析与校准 |
| 3.1 传感器误差来源分析 |
| 3.1.1 偏置直流 |
| 3.1.2 幅相不平衡(I/Q 误差) |
| 3.1.3 幅值衰减 |
| 3.1.4 空间滤波效应 |
| 3.2 误差因素对测距的影响 |
| 3.3 校准参数提取与传感器校准 |
| 3.3.1 基于等效中频的误差提取方法 |
| 3.3.2 误差提取方法的优化 |
| 3.3.3 传感器信号校准方法 |
| 3.4 本章小结 |
| 第四章 叶尖间隙静态测试分析 |
| 4.1 静态测试系统搭建 |
| 4.1.1 连续波雷达模块 |
| 4.1.2 位移平台与模拟叶尖 |
| 4.1.3 采集卡与上位机 |
| 4.2 实验中的空间滤波效应 |
| 4.3 传感器静态位移测试 |
| 4.4 本章小结 |
| 第五章 叶尖间隙动态测试分析 |
| 5.1 动态测试系统搭建 |
| 5.2 连续旋转测试 |
| 5.3 本章小结 |
| 第六章 总结与展望 |
| 6.1 本文的主要工作 |
| 6.2 研究展望 |
| 参考文献 |
| 致谢 |
| 在学期间的研究成果及发表的学术论文 |
（10）基于压缩感知的微波成像研究（论文提纲范文）
| 致谢 |
| 摘要 |
| Abstract |
| 1 绪论 |
| 1.1 研究的背景和意义 |
| 1.2 国内外研究现状 |
| 1.3 本文的主要研究内容 |
| 2 电磁逆散射问题和压缩感知理论 |
| 2.1 电磁散射基本理论 |
| 2.2 压缩感知基本理论 |
| 2.3 本章小结 |
| 3 基于随机辐射平面口径的压缩感知定位 |
| 3.1 基于压缩感知的微波成像模型 |
| 3.2 基于超材料口径天线的压缩感知定位系统 |
| 3.2.1 超材料口径天线随机辐射特性分析 |
| 3.2.2 基于压缩感知的无线定位系统 |
| 3.3 基于超材料口径天线的压缩感知定位系统仿真 |
| 3.4 基于超材料口径天线的压缩感知定位实验研究 |
| 3.5 本章小结 |
| 4 基于随机多波束照射的微波成像 |
| 4.1 基于阵列天线的随机辐射场 |
| 4.1.1 相控阵列天线理论 |
| 4.1.2 移相器基本理论 |
| 4.2 随机照射微波成像仿真研究 |
| 4.2.1 随机照射微波成像系统仿真优化 |
| 4.2.2 基于压缩感知的随机照射成像仿真 |
| 4.3 随机照射微波成像硬件实现 |
| 4.4 随机照射微波成像实验研究 |
| 4.5 本章小结 |
| 5 基于压缩感知的微波隔墙成像 |
| 5.1 基于逆散射问题的隔墙成像模型 |
| 5.2 基于压缩感知的隔墙成像仿真研究 |
| 5.3 基于压缩感知的隔墙成像实验研究 |
| 5.4 本章小结 |
| 6 结束语 |
| 6.1 全文总结 |
| 6.2 展望 |
| 参考文献 |
| 攻读博士学位期间的研究成果 |
四、扫描近场微波显微镜测量非线性介电常数的理论校准系数（论文参考文献）
- [1]等离子体电磁特性及微波诊断方法研究[D]. 李路同. 电子科技大学, 2021
- [2]面向近场微波扫描应用的探针设计与研究[D]. 杨凯. 西安电子科技大学, 2020(05)
- [3]移动通信基站天线测量若干关键技术问题研究[D]. 赖展军. 华南理工大学, 2020(01)
- [4]薄膜电特性的近场微波测试方法研究[D]. 黄和. 电子科技大学, 2020(07)
- [5]基于NSMM的流体的近场微波特性研究[D]. 刘高. 电子科技大学, 2020(08)
- [6]微波近场扫描中探针设计与仿真研究[D]. 冯悦. 西安电子科技大学, 2019(02)
- [7]界面和能带结构对电荷俘获型器件存储性能影响的研究[D]. 杨友斌. 南京大学, 2019(07)
- [8]微放电效应与松散连接对无源互调的影响机理研究[D]. 杨会平. 湖南大学, 2019(01)
- [9]基于微波相位法的叶尖间隙在线测量技术研究[D]. 杨季三. 南京航空航天大学, 2019(02)
- [10]基于压缩感知的微波成像研究[D]. 周天益. 浙江大学, 2018(12)